耐低溫測(cè)試設(shè)備可以模擬低溫環(huán)境進(jìn)行試驗(yàn)。適用于檢測(cè)半導(dǎo)體、電子、電器、led、通訊、塑膠制品、儀表、金屬、化工、食品、汽車等產(chǎn)品。主要是提供給工業(yè)產(chǎn)品做低溫環(huán)境的可靠性試驗(yàn)，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性